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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:安捷倫Agilent4263BLCR測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):Agilent4263
  • 產(chǎn)品廠商:美國(guó)安捷倫
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
安捷倫Agilent4263BLCR測(cè)試儀
Alilent 4263B LCR測(cè)試儀是Agilent公司生產(chǎn)的價(jià)廉物美的低檔LCR測(cè)試儀,供生產(chǎn)線上的元件評(píng)估和實(shí)驗(yàn)室中的基本阻抗測(cè)試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對(duì)測(cè)試進(jìn)行模擬的5個(gè)測(cè)試頻率,即100Hz,120Hz,1kHz和100kHz。在這5個(gè)頻率之外還可增添供選用的20kHz測(cè)試頻率(選件002)。 高速測(cè)量。
詳情介紹:

 安捷倫Agilent4263BLCR測(cè)試儀介紹:

Alilent 4263B LCR測(cè)試儀是Agilent公司生產(chǎn)的價(jià)廉物美的低檔LCR測(cè)試儀,供生產(chǎn)線上的元件評(píng)估和實(shí)驗(yàn)室中的基本阻抗測(cè)試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對(duì)測(cè)試進(jìn)行模擬的5個(gè)測(cè)試頻率,即100Hz,120Hz,1kHz和100kHz。在這5個(gè)頻率之外還可增添供選用的20kHz測(cè)試頻率(選件002)。
高速測(cè)量

Agilent 4263B依靠在任何測(cè)試頻率上都有25ms的測(cè)量速度來提高一產(chǎn)率,這種能力提高了電解電容順和變壓器測(cè)試的效率,4263B能檢查測(cè)試端子與被測(cè)件(DUT)之間的接觸狀況,這種功能保證在生產(chǎn)中用自動(dòng)處理器進(jìn)行合格。不合格的測(cè)試的可靠性,有故障的被測(cè)件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作,因此處理器始終能以高速度工作。

電解電容器測(cè)量

Ailent 4263B的精度和寬的測(cè)量范圍是對(duì)電解電容器進(jìn)行精密測(cè)量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電,從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計(jì)考慮了保護(hù)作用,能保持測(cè)試正常進(jìn)行。

變壓器參數(shù)測(cè)量

由于Ailent 4263B能進(jìn)行匝數(shù)比(N),互感(M)和直流電阻(DCR)測(cè)量,故數(shù)據(jù)計(jì)算和改變測(cè)試裝置不再是費(fèi)時(shí)的工作(選件001)靈活的信號(hào)電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測(cè)量與電平有關(guān)的被測(cè)件,始磁芯電感器。

 安捷倫Agilent4263BLCR測(cè)試儀特點(diǎn):

基本精度為0.1%
測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
高速測(cè)量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測(cè)試量程
變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用)
 安捷倫Agilent4263BLCR測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):
性能描述  
測(cè)量參數(shù) |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
選件001 增加DCR(直流電阻),N(匝數(shù)比)和M(互感)測(cè)量
測(cè)量電路形式 串聯(lián)和并聯(lián)
數(shù)學(xué)功能 偏差和百分偏差
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)
測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù) 
測(cè)試頻率 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
選件002 增加20kHz測(cè)試頻率
頻率精度 ±0.01%(頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
輸出阻抗 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程) 
交流測(cè)試信號(hào)電平 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
精度 ±(10%+10mV)
內(nèi)部直流偏置 
電平 1.5和2V;精度:±(5%+2mV) 
外部直流偏置 0~+2.5V
測(cè)量范圍: 
|Z|,R,X: 
測(cè)量范圍 1mΩ-100MΩ
|Y|,G,B: 
測(cè)量范圍 10nS-1000S
C: 
測(cè)量范圍 1pF-1F
L: 
測(cè)量范圍 10nH-100kH
D: 
測(cè)量范圍 0.0001-9.9999
測(cè)量精度: 
測(cè)量范圍 ±0.1%(基本精度)(適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)
模式 時(shí)間(典型值)
短 25ms
中等 65ms
長(zhǎng) 500ms
測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器 電壓和電流
顯示數(shù)字 3,4或5位(可選擇)
開路/短路誤差為0 消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
負(fù)載 利用一個(gè)已校器件作為參考來改善測(cè)量的精度
比較功能 對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低(HEGH/IN/LOW)比較結(jié)果
存儲(chǔ)/調(diào)用 可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置
連續(xù)存儲(chǔ)功能 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置(直流偏置接通/切斷除外)將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(在23°±5℃下≦72小時(shí))
GPIB接口 所有控制設(shè)置,被測(cè)值和比較器信息
持有證書  
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